Bezkontaktné meranie geometrických veličín v 3D objektoch s využitím RTG mikrotomografie

Program DŠ: Meracia technika
Akademický rok: 2019-2020
Meno školiteľa: RNDr. Miroslav Hain, PhD. (umerhain@savba.sk)
Externá vzdelávacia inštitúcia: Ústav merania SAV
Prijímajúca škola: FEI STU v Bratislave, Ústav elektrotechniky
Max. počet študentov: 1

Anotácia:
Témou dizertačnej práce je rozvoj bezkontaktných mikrotomografických metód merania geometrických veličín v 3D objektov s použitím RTG mikrotomografie. Doktorand by sa mal venovať metódam merania, analýze, vyhodnoteniu rozmerov objektov a pórovitosti materiálov, rozmerovej analýze vnútornej štruktúry kompozitných materiálov. Cieľom práce je rozvoj presných mikrotomografických metód merania geometrických veličín, návrh etalónov a metód kalibrácie mikrotomografického meracieho systému a analýza neistôt merania.
Požiadavky na uchádzača sú znalosť odbornej angličtiny, vedomosti z oblasti bezkontaktných metód merania a analýzy neistôt merania. Výhodou sú aj znalosti programovania (C, Matlab) a skúsenosti s návrhom a konštrukciou elektronických obvodov. Počas štúdia bude doktorand oboznámený s činnosťou a obsluhou RTG mikrotomografu, rozšíri si poznatky z oblasti zobrazovacích meracích metód a ich použitím pri materiálovom výskume.

späť