Seminár k dizertačnej práci RNDr. Miroslava Haina

sa uskutoční v stredu 26. mája 2010 o 10:00 v zasadacej miestnosti Ústavu merania SAV.

Anotácia

V práci sú navrhnuté, teoreticky analyzované a experimentálne verifikované viaceré meracie metódy a meracie systémy, využívajúce žiarenie v infračervenej oblasti spektra - metódy aktívnej infračervenej termografie, infračervenej reflektografie a meracie metódy s využitím infračervenej spektroskopie s Fourierovou transformáciou.
V rámci riešenia týchto problematík bolo uskutočnené numerické modelovanie šírenia tepla v nehomogénnom prostredí metódou konečných prvkov, analyzovaná interferencia IČ žiarenia vo vrstve pri šikmom dopade s využitím pri meraní hrúbky vrstiev, indexu lomu a chromatickej disperzie materiálov. Pre uvedené metódy boli navrhnuté a realizované meracie systémy s vyvinutým špecializovaným meracím a vyhodnocovacím softvérom, ďalej boli analyzované zdroje neistoty a vyhodnotená výsledná neistota merania. Výsledky numerických modelov a teoretických analýz boli experimentálne verifikované v laboratórnych experimentoch a tiež aj v in situ meraniach.