6.6.2012

Dňa 5. júna 2012 navštívil Ústav merania SAV zástupca belgickej firmy Bekaert Dr. Dominique Neerinck v sprievode podpredsedu SAV pre I. oddelenie vied Ing. Juraja Lapina, DrSc. a podpredsedníčky SAV pre vzdelávanie a doktorandské štúdium prof. PharmDr. Daniely Ježovej, DrSc. Návšteva, ktorej cieľom bolo vytipovať možné oblasti spolupráce firmy Bekaert a SAV nadviazala na návštevu zástupcov SAV v Belgicku a návštevy Ústavu anorganickej chémie SAV a Ústavu polymérov SAV.

Hostí na Ústave merania SAV privítal jeho riaditeľ doc. Tyšler, ktorý vo svojej prezentácii predstavil hlavné aktivity ústavu a jeho vybrané laboratóriá. V nadväzujúcom vystúpení Ing. Vávra z Elektrotechnického ústavu SAV predstavill zameranie laboratórií FIB a RTG difraktometrie, ktoré sú tiež lokalizované v priestoroch ÚM SAV a následne profil a významné aplikačné výstupy Ústavu materiálov a mechaniky strojov SAV predstavil jeho riaditeľ prof. Simančík.

Potom nasledovala prehliadka Laboratória RTG mikrotomografie (RNDr. Hain, ÚM SAV), Laboratória Národného centra NMR (prof. Frollo, ÚM SAV), Laboratória FIB (Ing. Vávra ElÚ SAV), Laboratória elektrónovej mikroskopie (Ing. Nosko ÚMMS SAV) a Laboratória RTG difraktometrie (doc. Dobročka, ElÚ SAV).

Fotoreportáž z návštevy nájdete tu.