Bilaterálny projekt

Doba riešenia: 01/2006- 12/2016

Anglický názov: Advanced optical methods for nanoelectronics

Vedúci projektu: RNDr. Miroslav Hain, PhD.

Medzinárodná spolupráca je zastrešená Memorandom o porozumení medzi Ústavom merania SAV a japonským výskumným ústavom Nanoelektronics Research Institute AIST v Tsukube. 

Spolupráca je zameraná na rozvoj optických metód a prístrojov na meranie spektrálnych vlastností reflektancie, transmitancie a absorptancie materiálov používaných v nanoelektronike.

Patenty:

Kawate, Etsuo – Hain, Miroslav. Optical Characteristic Measurement Device. Patent č. WO 2012/121323 A1. Dátum nadobudnutia účinkov patentu: 13.09.2012. (č. prihlášky PCT/JP2012/055945, 08.03.2012). Majiteľ: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo, Japan; Kawate Etsuo; Hain Miroslav.

 Kawate, Etsuo – Hain, Miroslav. Optical Characteristic Measuring Apparatus. Patent č. US 8 982 345 B2. Dátum nadobudnutia účinkov patentu: 17.03.2015. (č. prihlášky PCT/JP2012/055945, 08.03.2012). Majiteľ: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tokyo, Japan; Kawate Etsuo; Hain Miroslav. 

Publikácie: 

KAWATE, E. - HAIN, M. Study of uncertainty sources in incident angle dependence of regular reflectance and transmittance using a STAR GEM accessory. In MEASUREMENT 2013 : 9th International Conference on Measurement. Bratislava : Institute of Measurement Science, SAS, 2013, p. 183-186.